Spoločné laboratórium transmisnej elektrónovej mikroskópie

V laboratóriu nainštalovaný nový 200kV plne analytický transmisný elektrónový mikroskop. Mikroskop JEOL JEM-2100F slúži na štúdium štruktúry a subštruktúry tuhých látok. Pracuje vo vysokom rozlíšení, a to v štandardnom (TEM) alebo skenovacom režime (STEM). Ako zdroj elektrónov je používaná autoemisná katóda (FEG) napájaná urýchľovacím napätím 80 až 200kV. Medzi hlavné charakteristiky patrí rozlíšenie 0,14nm a maximálne zväčšenie 1,5Mx v TEM režime. Pre STEM režim je mikroskop vybavený detektorom pre snímanie v tmavom aj svetlom poli. Maximálne zväčšenie v STEM režime dosahuje až 150Mx a rozlíšenie 0,16nm. Okrem konvenčnej difrakcie je možné vykonávať aj difrakciu z nanoobjemu materiálu a difrakciu konvergentným zväzkom. Súčasťou mikroskopu je aj EDS analyzátor INCA firmy Oxford Instruments s aktívnou plochou kryštálu 80mm2 slúžiaci na stanovovanie chemického zloženia preparátov a digitálna kamera Orius SC 1000 od firmy GATAN s citlivým dvojkanálovým snímačom na zachytenie pozorovaného obrazu.