AFM

AFM (atomic force microscope) - atómový silový mikroskop firmy Veeco - na skenovanie po povrchu vzorky používa veľmi ostrý hrot vyrobený z tvrdého materiálu. AFM umožňuje charakterizáciu povrchov s plochou niekoľkých desiatok mikrometrov, s rozlíšením niekoľko desiatok až jednotiek nanometrov. Týmto zariadením sa dá skúmať nielen topografia povrchov, ale aj ich magnetické, elektrické a mechanické vlastnosti. Ďalej tento prístroj umožňuje aj prípravu nanoštruktúr a nanomanipulácie. Mikroskop bol napríklad použitý na prípravu „nano“ log UPJŠ a ÚEF SAV pomocou tzv. lokálnej anodickej oxidácie (LAO).